Nicomp 380系列納米激光粒度儀采用動態光散射原理檢測分析樣品的粒度分布。
還基于多普勒電泳光散射原理 (Doppler Electrophoretic Light Scattering,DELS) 檢測ZETA電位。
其主要用于檢測納米級別及亞微米級別的體系，粒徑檢測范圍0.3nm-10 um, ZETA電位檢測范國為+/-500mV。
動態光散射方法(DLS) 從傳統的光散射理論中 分離，不再關注于光散射的光強值，而關注于光強隨著時間的波動行為。
我們通過光強值的波動得到自相關函數，從 而獲得豪減時間常量，根據公式換算獲得粒子的擴散速度D(Difusion，擴散系數）。

儀器型號：
Nicomp N3000 納米粒度分析儀
Nicomp Z3000納米粒度及點位分析儀

工作原理：動態光散射

檢測范圍：
粒徑檢測：0.3nm~10μm
Zeta電位：-500mV~+500mV

檢測范圍：0.5μm~400μm （可拓展至0.15μm~5000μm）
樣品濃度：10（9次方）個/mL
采用自送稀釋模式，可以有效將高濃度樣品快速稀釋至何時濃度并進行檢測
針對易沉降顆粒
采用meter pump抽樣模式，優先識別更大顆粒，確保檢測準確，完整可靠。

應用：醫藥（原料藥、混懸劑、微球），粉體、墨水等

檢測范圍：0.5μm~400μm （可拓展至0.15μm~5000μm）
樣品濃度：10（11次方）個/mL
采用全自動二步稀釋結合定量環進樣，封閉式檢測空間，一體化檢測流程。
實現了真正的單接口，一站式檢測
操作簡便，測試結果穩定可靠

應用：醫藥（乳劑、脂質體），半導體（CMP Slurry）、墨水等